统计过程诊断（SPD）是什么？

统计过程诊断即SPD（Statistical Process Diagnosis），20世纪80年代由中国质量管理专家张公绪首次提出。1980年，张公绪提出选控控制图系列。选控图是统计诊断理论的重要工具，奠定了统计诊断理论的基础。1982年，张公绪又提出了“两种质量诊断理论”，突破了传统的休哈特质量控制理论，开辟了质量诊断的新航向。此后，我国又提出“多元逐步诊断理论”和“两种质量多元诊断理论”，解决了多工序、多指标系统的质量控制与质量诊断问题。从此，SPC上升为统计过程诊断。

统计过程诊断是利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控与诊断，从而达到缩短诊断异常的时间、以便迅速采取纠正措施、减少损失、降低成本、保证产品质量的目的。 

目前，我国依据上述诊断理论已开发出两种统计过程诊断软件。一种是依据“两种质量诊断理论”开发的应用软件SPCD2000，用于诊断多工序生产线中上工序对下工序的影响；另一种是依据“多元逐步诊断理论”和“两种质量多元诊断理论”开发的多元诊断软件DTTQ2000，用于多因素相关条件下的诊断。而后者同时也考虑了上工序对下工序的影响。

统计过程诊断是SPC的进一步发展。统计过程诊断能在SPC基础上利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控与诊断，从而缩短诊断时间、迅速采取纠正措施、减少损失、降低成本、保证产品质量。