应用SPC统计过程控制探测缺陷

关键词：SPC,统计过程控制

SPC是统计过程控制，应用统计原理对生产过程进行评估与监测，SPC的功能之一是探测缺陷，那么我们首先来了解什么是缺陷。

什么是缺陷

缺陷是指，不能提供满足顾客合理需求和合理期望，包括安全性与可靠性及性能质量考虑的货物与服务。缺陷可分为4个等级：

一级为非常严重的缺陷，它直接导致灾难或重大的经济损失。

二级为严重的缺陷，它导致直接的显著危害或明显的经济损失。

三级为主要的缺陷，它与造成不能正常和合理使用的主要因素相关联。

四级为次要的缺陷，它与造成不能正常和合理使用的次要因素相关联。

所以，应用SPC统计过程控制探测缺陷成为重要的缺陷预防技术。探测缺陷的模型表述如下图。

缺陷探测的模型

SPC统计过程控制如何探测缺陷

SPC系统主要应用控制图对过程进行监控。根据工序输出的结果有效地评估过程能力，当过程能力满足时即可进入探测缺陷阶段。在生产现场中，当控制图超出控制界限显示异常的情况增多，则说明此时是缺陷易发阶段，品管人员需要召集相关生产部门组成问题解决小组，查找即将导致缺陷发生的根源，并制定及时的纠正措施和后续的预防措施。改进措施应做到“查出缺陷异因，采取措施，保证销除，不再出现，纳入标准”。

应用SPC统计过程控制探测缺陷是缺陷预防的重要技术之一，通过对过程的评估和监测发现缺陷趋势并及时改进，从而实现预防缺陷的目的。